产品简介

日本原装TOPCON拓普康SR-LEDW-5N分光辐射计
宽范围测量
兼容波长宽度5nm

日本原装TOPCON拓普康SR-LEDW-5N分光辐射计

日本原装TOPCON拓普康SR-LEDW-5N分光辐射计

该产品是一款宽动态范围光谱辐射计，可以测量从影响黑色图像表现力的超低亮度 0.0005 cd/m2（也称为超级对比度）到超高亮度级 LED 5,000,000 cd/m2。

这是我们SR系列的顶级型号，新安装的FIX模式可自动执行测量条件并减少同一样品的测量时间。

它不仅可用于近年来市场迅速扩大的LED背光模组的设计和开发，还可用于生产过程中的高速、高精度控制。

在380 nm至780 nm的测量波长范围内支持5 nm或更小的光谱波长宽度。

兼容宽动态范围（0.0005 至 5,000,000 cd/m²）

⁠ 配备 FIX 模式，显着缩短生产线上的连续测量时间（与我们的传统产品相比为 1/2）

⁠ 改进的均匀灵敏度，减少灵敏度不均匀性 可进行 LED 芯片测量容易地。

ð 也可通过连接照度适配器（单独出售）进行照度 (lx) 测量。

⁠ 兼容5 nm或更小的光谱波长宽度（半宽度）

LED背光源、LED照明亮度/色度、色温特性、显色性评估

⁠ LCD、OLED等，显示器亮度/色度、色温特性、一般光学特性评估

⁠ 汽车前灯、后灯等 高精度测量LED 照明中亮度和色度的测量

⁠ 作为光学特性评估传感器安装在各种系统设备中